INCORPORATION DU XÉNON DANS LES MAGMAS À HAUTE PRESSION

Table des matières

INTRODUCTION
CHAPITRE 1. CONTEXTE DE L’ÉTUDE
1.1 LES MAGMAS
1.1.1 LES LIQUIDES SILICATÉS
1.1.1.1 La structure atomique
1.1.1.2 Formateurs et modificateurs de réseau
1.1.2 LES MAGMAS TERRESTRES
1.1.3 LES MAGMAS DANS L’HISTOIRE DE LA TERRE
1.1.3.1 Terre ancienne : l’océan magmatique
1.1.3.2 Terre moderne : magma profond et contexte géodynamique
1.2 LES ÉLÉMENTS VOLATILS
1.2.1 PRÉSENTATION GÉNÉRALE
1.2.2 L’EAU ET SON CYCLE
1.2.3 LE XÉNON : UN GAZ RARE ATYPIQUE
1.2.4 L’IODE
1.2.5 LE SYSTÈME IODE/XÉNON
1.3 L’ATMOSPHÈRE
1.3.1 HISTOIRE DE L’ATMOSPHÈRE TERRESTRE
1.3.2 FORMATION DE L’ATMOSPHÈRE PRIMITIVE
1.3.2.1 Apports extérieurs
1.3.2.2 Le dégazage du manteau primitif
1.3.3 PERTE DE L’ATMOSPHÈRE
CHAPITRE 2. MÉTHODES EXPÉRIMENTALES ET ANALYTIQUES
2.1 CHOIX DES PRODUITS DE DÉPARTS
2.1.1 L’HAPLOGRANITE (HPG)
2.1.2 LES BASALTES
2.2 SYNTHÈSES DES ÉCHANTILLONS
2.2.1 LA PRESSE PISTON-CYLINDRE
2.2.1.1 Préparation des capsules
2.2.1.2 Assemblage
2.2.1.3 Principe
2.2.1.4 Déroulement des synthèses
2.2.2 LES CELLULES À ENCLUMES DIAMANTS À CHAUFFAGE RÉSISTIF
2.2.2.1 Principe
2.2.2.2 Mesure de la pression
2.2.2.3 Mesure de la température
2.2.3 LA PRESSE PARIS-ÉDIMBOURG
2.2.3.1 Principes
2.2.3.2 Assemblage
2.2.3.3 Mesure de la pression et température lors des expériences
2.3 CARACTÉRISATIONS IN SITU : LA DIFFRACTION DES RAYONS X
2.3.1 LE RAYONNEMENT SYNCHROTRON
2.3.1.1 Principe
2.3.1.2 Les rayons X
2.3.2 LES LIGNES UTILISÉES
2.3.2.1 Déroulement des expériences
2.3.2.2 Énergie choisie
2.3.2.3 Temps d’acquisition
2.4 CARACTÉRISATION EX SITU
2.4.1 TEXTURE DES ÉCHANTILLONS
2.4.2 IMAGERIE DES ÉCHANTILLONS
2.4.3 ANALYSES CHIMIQUES GLOBALES
2.4.3.1 La microsonde électronique
2.4.3.2 Conditions d’analyses
2.4.4 COMPOSITION ÉLÉMENTAIRE EN I, XE ET H
2.4.4.1 Analyse par faisceaux d’ions : principes
2.4.4.2 Dispositif
2.4.4.3 RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry)
2.4.4.4 PIXE (Particle Induced X-ray Emission)
2.4.4.5 ERDA (Elastic Recoil Detection Analysis)
CHAPITRE 3. TRAITEMENT DES DONNÉES
3.1 TRAITEMENT DES DONNÉES DE DIFFRACTION DE RAYONS X
3.1.1 MÉTHODOLOGIE
3.1.2 DE LA DONNÉE BRUTE AU SPECTRE INTÉGRÉ
3.1.2.1 Diffraction en dispersion d’angle
3.1.2.2 Par dispersion d’énergie
3.1.3 FORMALISME DU TRAITEMENT DU SIGNAL COHÉRENT DE DIFFRACTION
3.1.4 INFORMATIONS STRUCTURALES OBTENUES
3.1.4.1 La fonction de distribution de paires : Ordre à courte distance
3.1.4.2 Estimation du nombre de coordination
3.2 ANALYSE DES DONNÉES QUANTITATIVES OBTENUES PAR MICROSONDE NUCLÉAIRE
3.2.1 TRAITEMENT DES DONNÉES BRUTES
3.2.2 ANALYSES DES DONNÉES PIXE
3.2.2.1 Calcul des concentrations
3.2.2.2 Choix des raies et interaction
3.2.2.3 Mesure de la teneur en Xe : comparaison des techniques
3.2.3 ANALYSES DES DONNÉES ERDA
3.2.3.1 Principe du traitement
3.2.3.2 Calcul des erreurs
3.2.3.3 Les limites de détections
CHAPITRE 4. INCORPORATION DU XÉNON DANS LES MAGMAS À HAUTE PRESSION
4.1 INTRODUCTION
4.2 BONDING OF XENON TO OXYGEN IN MAGMAS AT THE DEPTH
CHAPITRE 5. L’IODE DANS LES MAGMAS
5.1 ÉTUDE DE LA SOLUBILITÉ DE L’IODE DANS LES SILICATES LIQUIDES
5.1.1 INTRODUCTION
5.1.2 IODINE SOLUBILITY IN MAGMAS
5.2 INCORPORATION DE L’IODE DANS LES MAGMAS À HAUTE PRESSION
CONCLUSIONS GÉNÉRALES