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La source de perturbation
La victime de la perturbation
Approche de la CEM dans les systรจmes embarquรฉs
L’impulsion รฉlectromagnรฉtique dโorigine nuclรฉaire (IEMN) est l’un des effets des explosions nuclรฉaires. Cโest une impulsion de trรจs forte amplitude et de courte durรฉe. Son temps de montรฉe est de quelques nanosecondes et elle peut atteindre une amplitude maximale de 50 kV/m pendant une durรฉe infรฉrieure ร 1 ยตs [1-7]. Elle contient des frรฉquences allant de 100 kHz ร 10 MHz. Avec les niveaux de champ quโelles produisent, les IEMN sont capables de brouiller des signaux ou endommager des systรจmes รฉlectroniques et informatiques.
Dโautres systรจmes de communications peuvent รชtre aussi lโorigine de fortes perturbations, comme les antennes relais utilisรฉes pour la radiodiffusion ou la tรฉlรฉdiffusion, les scanners utilisรฉs dans les bibliothรจques et les aรฉroports, etc.
De tout ceux que lโon vient dโรฉnumรฉrer, on peut catรฉgoriser les sources de perturbations รฉlectromagnรฉtiques en deux groupes : les perturbations permanentes, comme les รฉmetteurs radio, les radars, les bruits des moteurs รฉlectriques, etc. et les perturbations transitoires, comme la foudre, les dรฉfauts dans les lignes dโรฉnergie, les interruptions de courant, les dรฉcharges รฉlectrostatiques, etc.
En somme, toutes ces sources gรฉnรจrent des ondes รฉlectromagnรฉtiques qui rendent les systรจmes embarquรฉs de plus en plus susceptibles.
Consรฉquences des perturbations sur un circuit intรฉgrรฉ
Lโeffet dโune perturbation EM sur un circuit intรฉgrรฉ dรฉpend de sa nature et de son amplitude. Des perturbations telles que la foudre ou lโIEMN conduisent le plus souvent ร la destruction des รฉquipements. Dโautres perturbations peuvent simplement modifier le comportement du composant. On sโintรฉressera plus ร ce type de perturbation dans ce document
Dans tous les cas, une perturbation emprunte un chemin de couplage pour atteindre un composant. Dโun mode de couplage ร un autre, les effets dโune mรชme perturbation sur un composant sont identiques. Dans cette partie, on dรฉcrit dโabord les diffรฉrents modes de couplage et de propagation dโune perturbation, puis lโeffet de cette derniรจre sur un circuit intรฉgrรฉ.
Mode de couplage
On appelle couplage le processus par lequel l’รฉnergie du perturbateur atteint la victime. Les modes de couplage peuvent รชtre classifiรฉs selon le type de perturbation et selon le support de propagation, par conduction (caractรฉrisรฉ par les courants et diffรฉrences de potentiel), ou par rayonnement (caractรฉrisรฉ par les champs รฉlectriques, et magnรฉtiques). La figure 1.7 illustre ces principes.
Une perturbation issue de la source de perturbation arrive ร la victime de la perturbation en utilisant un mode conduit ou un mode rayonnรฉ. Nous dรฉcrivons dans la suite les principaux modes de couplage dโune perturbation รฉlectromagnรฉtique [1-1].
Les modes de couplage conduit
Le couplage par impรฉdance commune
Cโest un couplage de type conduit. Dans un couplage par impรฉdance commune, le dispositif perturbateur possรจde une impรฉdance commune avec la victime. Aux bornes de cette impรฉdance commune se trouve une tension gรฉnรฉrรฉe par le courant passant dans le perturbateur. La victime subit cette tension parasite car elle est aussi connectรฉe ร cette impรฉdance.
Exemple : deux appareils sont branchรฉs sur le rรฉseau 230 V : le perturbateur qui gรฉnรจre des tensions parasites sur la tension du rรฉseau ; une victime qui utilise la mรชme tension du rรฉseau rรฉcupรจre aussi les tensions parasites.
Le couplage capacitif
Cโest aussi un couplage de type conduit. Dans le cas dโun couplage capacitif, il existe sur le perturbateur une tension susceptible de produire des perturbations. Il existe aussi une capacitรฉ entre ce conducteur source et un autre, qui est la victime. Par cette capacitรฉ, de l’รฉnergie รฉlectrique perturbatrice atteint la victime. On rencontre ce type de couplage dans le phรฉnomรจne de diaphonie capacitive. Un conducteur appartenant au circuit perturbateur se trouve dans le mรชme cรขble qu’un conducteur appartenant au circuit victime. Ces deux conducteurs รฉtant proches, il existe une capacitรฉ entre eux, responsable du couplage. Le couplage est d’autant plus รฉlevรฉ que l’impรฉdance du circuit victime est grande, du fait du pont diviseur de tension constituรฉ de la capacitรฉ et de l’impรฉdance de la victime.
Le couplage par champ รฉlectrique
Cโest un couplage de type rayonnรฉ en champ proche. Le couplage par champ รฉlectrique est aussi appelรฉ couplage champ ร fil. C’est un champ รฉlectrique incident qui va produire une perturbation sur une victime. Remarquons quโil est de mรชme nature que le couplage capacitif, puisque la capacitรฉ de couplage amรจne des lignes de champ sur la victime. La diffรฉrence ici, c’est que le perturbateur est plus รฉloignรฉ. Au lieu d’identifier le perturbateur lui-mรชme, on identifie le champ รฉlectrique qui en est issu. Par exemple, le champ รฉlectrique impulsionnel issu d’une bougie d’allumage de moteur atteint l’antenne d’un rรฉcepteur autoradio.
Le couplage par champ magnรฉtique
Cโest un couplage de type rayonnรฉ en champ proche. Il est aussi appelรฉ couplage champ ร boucle. Le champ magnรฉtique issu du perturbateur traverse le circuit victime et induit dans celui-ci une tension parasite. Remarquons lร aussi que ce couplage est de mรชme nature que le couplage inductif. Au lieu d’identifier le perturbateur lui-mรชme, on identifie le champ magnรฉtique qu’il a gรฉnรฉrรฉ comme รฉtant la perturbation. On rencontre ce type de couplage lors d’un coup de foudre ร proximitรฉ de la victime. La tension induite dans la boucle est donc importante du fait de la variation importante de l’intensitรฉ du courant, mais aussi de la rapiditรฉ de la montรฉe de ce courant.
Le couplage par champ รฉlectromagnรฉtique
Cโest un couplage de type rayonnรฉ en champ lointain. Souvent, un perturbateur รฉmet ร la fois du champ รฉlectrique et du champ magnรฉtique. C’est l’ensemble de ces deux champs qui atteint la victime. Cependant, mรชme si un perturbateur n’รฉmet au dรฉpart qu’un champ รฉlectrique, les รฉquations de Maxwell montrent qu’ร une certaine distance de cette source, un champ magnรฉtique apparaรฎtra aussi, pour former une onde plane รฉlectromagnรฉtique. Il en est de mรชme si le perturbateur n’รฉmet au dรฉpart qu’un champ magnรฉtique. A hautes frรฉquences, cโest le mode de couplage le lus courant. La figure 1.11 illustre le principe du couplage par champ รฉlectromagnรฉtique, dans un cas sur une boucle et dans lโautre sur un fil.
Mode de propagation de la perturbation
Lorsquโune perturbation atteint un รฉquipement, elle peut se propager suivant trois modes : le mode diffรฉrentiel, le mode commun ou le mode antenne. Cette partie dรฉfinit ces diffรฉrents modes de propagation dโune perturbation รฉlectromagnรฉtique [1-1].
Mode diffรฉrentiel
Considรฉrons deux conducteurs reliรฉs ร un รฉquipement รฉlectrique ou รฉlectronique (Fig.1.12). On dit qu’une tension est appliquรฉe en mode symรฉtrique (ou diffรฉrentiel) ร cet รฉquipement si une tension est prรฉsente entre ces deux conducteurs. Par exemple, la tension d’alimentation du secteur est appliquรฉe en mode diffรฉrentiel. Ou bien encore la tension prรฉsente sur une paire de fils tรฉlรฉphoniques. Si on considรจre le cรขble constituรฉ par l’ensemble des deux conducteurs, la somme algรฉbrique des courants dans ce cรขble est nulle, puisqu’il y a un courant ยซ aller ยป dans le premier conducteur, et un courant ยซ retour ยป de mรชme intensitรฉ, mais opposรฉ, dans le second conducteur. Pour รฉviter les problรจmes de CEM, il suffit que les deux conducteurs soient suffisamment proches, cela รฉvite de crรฉer une boucle de surface trop grande.
Mode commun
La propagation d’une perturbation en mode commun est considรฉrรฉe comme le principal problรจme de la CEM. Considรฉrons un cรขble constituรฉ de plusieurs conducteurs, connectรฉ ร un รฉquipement รฉlectrique ou รฉlectronique (Fig.1.13). Un champ รฉlectromagnรฉtique extรฉrieur induit un courant parasite dans l’ensemble des conducteurs de ce cรขble. Les courants induits sont en phase dans tous les conducteurs du cรขble. Il n’y a aucun conducteur de retour de ce courant dans le cรขble. Etant donnรฉ quโun courant parcourt un circuit fermรฉ. Le chemin de retour de ce courant risque dโรชtre extรฉrieur au cรขble, ร savoir :
– D’autres cรขbles de l’appareil, s’ils en existent.
– Un conducteur de ยซ terre ยป, s’il en existe.
– La capacitรฉ entre l’appareil et la ยซ terre ยป.
Ce courant est dit ยซ de mode commun ยป. Dans les systรจmes complexes, on trouve souvent un plan de masse commun aux diffรฉrents appareils. On peut dans ce cas rรฉduire les perturbations de mode commun en maintenant les cรขbles d’entrรฉe le plus prรจs possible du plan de masse du systรจme, afin de rรฉduire la surface de la boucle de mode commun.
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Table des matiรจres
INTRODUCTION
Chapitre 1 : ETAT DE LโART
1.1. Introduction ร la Compatibilitรฉ Electromagnรฉtique
1.1.1. Contexte et problรฉmatique
a. รmission et susceptibilitรฉ
b. Notion de source – chemin de couplage โ victime
c. La source de perturbation
d. La victime de la perturbation
1.1.2. Approche de la CEM dans les systรจmes embarquรฉs
1.2. Sources des perturbations รฉlectromagnรฉtiques
1.2.1. Dรฉcharges รฉlectrostatiques
1.2.2. Rรฉseaux de communication sans fil
1.2.3. Radars (RAdio Detection And Ranging)
1.2.4. Charges inductives
1.2.5. Armes รฉlectromagnรฉtiques de forte puissance
1.2.6. Circuits intรฉgrรฉs
1.2.7. Autres sources
1.3. Consรฉquences des perturbations sur un circuit intรฉgrรฉ
1.3.1. Mode de couplage
a. Les modes de couplage conduit
b. Les modes de couplage rayonnรฉ
1.3.2. Mode de propagation de la perturbation
a. Mode diffรฉrentiel
b. Mode commun
c. Mode antenne
1.3.3. Effet de la perturbation
a. Circuits Numรฉriques
b. Circuit Analogique
Chapitre 2 : LA SUSCEPTIBILITE ELECTROMAGNETIQUE DES SYSTEMES EMBARQUES
2.1. Mise en contexte
2.1.1. Susceptibilitรฉ conduite
2.1.2. Susceptibilitรฉ rayonnรฉe
2.1.3. Modรจle mathรฉmatique simplifiรฉ du couplage dโonde EM sur le dispositif
a. Onde plane
b. Couplage
2.2. Les moyens de mesures de la susceptibilitรฉ
2.2.1. Mesures en mode conduit
a. La mรฉthode dโinjection par boucle de courant ou Bulk Current Injection (BCI)
b. La mesure par ligne couplรฉe
c. Le banc dโinjection directe de puissance ou DPI (Direct Power Injection)
2.2.2. Mesures en mode rayonnรฉe
a. La cellule Transverse Electromagnetic (TEM)
b. La cellule Giga Hertz Traverse Electromagnetic (GTEM)
c. Injection dans une chambre anรฉchoรฏque
d. La chambre rรฉverbรฉrante ร brassage de mode
2.3. Les dysfonctionnements dโun systรจme รฉlectronique
2.3.1. Les diffรฉrents systรจmes รฉlectroniques et leurs domaines dโutilisation
a. Structure analogique
b. Structure numรฉrique
2.3.2. Nature des dysfonctionnements dโune carte
a. Dรฉfaillance logicielle
b. Dรฉfaillance matรฉrielle
2.3.3. Comportement dโun composant รฉlรฉmentaire non linรฉaire face ร une agression EM : la diode
2.3.4. Apparition de frรฉquences harmoniques en mode rayonnรฉe sur un systรจme รฉlectronique soumis ร des conditions dโagressions EM
Chapitre 3 : PRESENTATION DโUN OUTIL DE MODELISATION DE LA SUSCEPTIBILITE ELECTROMAGNETIQUE
3.1. Rappels d’รฉlectromagnรฉtisme
3.1.1. Les รฉquations de Maxwell
3.1.2. Gรฉnรฉration d’un champ รฉlectromagnรฉtique
3.1.3. Propagation d’un champ รฉlectromagnรฉtique
3.2. Modรฉlisation de la CEM
3.2.1. Niveau de modรฉlisation
a. Niveau systรจme : vision รฉquipementier
b. Niveau carte : vision รฉlectronicien
c. Niveau silicium : vision concepteur
3.2.2. Modรจle d’รฉmission ICEM
a. Les paramรจtres du modรจle de boรฎtier
b. Les paramรจtres du modรจle de circuit intรฉgrรฉ
3.2.3. Modรจle de susceptibilitรฉ des composants ICIM
a. Description du modรจle
b. Critรจres de susceptibilitรฉ
CONCLUSION ET PERSPECTIVES
REFERENCES
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