Generalite sur les series numeriques

GENERALITE SUR LES SERIES NUMERIQUES

Dรฉfinition

En mathรฉmatiques, une suite est une famille dโ€™รฉlรฉments indexรฉe par les entiers naturels. Une suite finie est une famille indexรฉe par les entiers strictement positifs infรฉrieurs ou รฉgaux ร  un certain entier, ce dernier รฉtant appelรฉ ยซ longueur ยป de la suite. Lorsque tous les รฉlรฉments dโ€™une suite (infinie) appartiennent ร  un mรชme ensemble E, cette suite peut รชtre assimilรฉe ร  une application de dans E. On note classiquement une suite ou . De maniรจre gรฉnรฉrale la sรฉrie constitue une gรฉnรฉralisation de la notion de somme, pour une succession infinie de termes. Lโ€™รฉtude des sรฉries consiste ร  effectuer la somme dโ€™un nombre fini n de termes successifs, puis ร  observer le comportement lorsque devient indรฉfiniment grand, par un calcul de limite. Un certain nombre de mรฉthodes permettent de dรฉterminer la nature des sรฉries sans rรฉaliser explicitement ces deux calculs.

Dans un langage plus mathรฉmatique on appelle sรฉrie numรฉrique dans ou le couple Oรน est une suite numรฉrique et la suite dรฉfinie par :

Lโ€™รฉlรฉment est appelรฉ n-รจme terme de la sรฉrie ou terme gรฉnรฉral de la sรฉrie et est appelรฉ n-รจme somme partielle de la sรฉrie. Une sรฉrie est dite convergente si la suite des sommes partielles est convergente (admet une limite finie); sa limite est alors appelรฉe la somme de la sรฉrie, et elle est notรฉe :

Et son calcul est la sommation de la sรฉrie ; dans le cas contraire la sรฉrie est dite divergente. Le terme gรฉnรฉral doit tendre vers zรฉro pour la sรฉrie converge. La rรฉciproque est fausse ; si une sรฉrie ne respecte pas cette condition, on dit quโ€™elle diverge grossiรจrement. On rappelle quโ€™une suite numรฉrique converge vers 0 ou quโ€™elle a pour limite quand n tend vers lโ€™infinie si et seulement si : On note : On distingue entre autre les sรฉries ร  valeurs vectorielles et les sรฉries de fonctions. Dans notre cas ci prรฉsent, nous limiterons seulement aux sรฉries de fonctions plus prรฉcisรฉment sur les sรฉries entiรจres.

Sรฉries de fonctions

En analyse, une suite ou une sรฉrie de fonction est une suite ou une sรฉrie dont les termes sont des fonctions toutes dรฉfinies sur un ensemble, et ร  valeurs rรฉelles ou complexes. Et pour ces sรฉries il existe de nombreuses faรงons de dรฉterminer non รฉquivalente de dรฉfinir la convergence (simple et uniforme). On trouve parmi ces sรฉries : les sรฉries trigonomรฉtriques, les sรฉries entiรจres et les sรฉries de Dirichlet.

Les sรฉries trigonomรฉtriques
Cโ€™est une suite particuliรจre de polynรดmes trigonomรฉtriques. La sรฉrie possรจde une frรฉquence fondamentale f, et on somme successivement des fonctions trigonomรฉtriques (sinusoรฏdales) de frรฉquence n.f pour des valeurs entiรจres de n.

Lโ€™exemple le plus classique de sรฉrie trigonomรฉtrique est la sรฉrie de Fourier associรฉe ร  une fonction pรฉriodique intรฉgrable.

Les sรฉries de Fourier sont un outil fondamental dans lโ€™รฉtude des fonctions pรฉriodiques. Cโ€™est ร  partir de ce concept que sโ€™est dรฉveloppรฉe la branche des mathรฉmatiques connue sous le nom dโ€™analyse harmonique.

En rรฉgime dynamique transitoire
Pour lโ€™intervalle de temps , la photopile est soumise uniquement ร  une source lumineuse blanche. Dรจs lโ€™instant que , elle est excitรฉe en plus de la lumiรจre blanche, par un faisceau monochromatique pulsรฉ que lโ€™on coupera ร  un instant ultรฉrieur . Lโ€™expression du taux de gรฉnรฉration demeure ainsi le mรชme que ceux obtenus en rรฉgime statique. Durant la pรฉriode la photopile excitรฉe par deux รฉclairements et รฉvolue vers un autre รฉtat stationnaire pour t tendant vers . Avant la coupure du faisceau pulsรฉ, le taux de gรฉnรฉration globe tient compte des vitesses de gรฉnรฉration G(x) et g(x) dues respectivement ร  lโ€™รฉclairement constant et au faisceau pulsรฉ [I-39].

Prรฉsentation du silicium polycristallin

Le silicium (Si) est un รฉlรฉment naturel de la troisiรจme pรฉriode et quatriรจme colonne du groupe A de la classification pรฉriodique. Il est fortement prรฉsent sur le globe puisque reprรฉsentant 28% de son รฉcorce. Ses propriรฉtรฉs รฉlectriques situรฉes entre les deux extrรชmes, conducteur et isolant, couplรฉes ร  sa relative stabilitรฉ physico chimique sont sans doute ce qui le prรฉdestine, sinon le privilรฉgie ร  la conversion photovoltaรฏque. Comme plusieurs autres รฉlรฉments, le silicium existe ร  tempรฉrature ambiante sous diverses structures dont les deux extrรชmes sont lโ€™รฉtat amorphe et lโ€™รฉtat cristallin. Le silicium polycristallin dont nous donnons une photographie ci aprรจs, est un รฉtat intermรฉdiaire de ces extrรชmes ; en somme, cโ€™est une composition hรฉtรฉrogรจnes de grains mono cristallins sรฉparรฉs entre eux par des zones dรฉsordonnรฉes et riches en dรฉfaut cristallins que lโ€™on peut assimiler ร  du silicium amorphe et que lโ€™on nomme : joints de grains.

Chacun de ces deux paramรจtres caractรฉristiques du silicium polycristallin, grain et joints de grains, recรจle des propriรฉtรฉs intrinsรจques quโ€™il conviendrait de noter.
โ€ข le grain peut รชtre dรฉfini par sa taille et par sa qualitรฉ cristalline. En effet les procรฉdรฉs habituels de fabrication du silicium ne permettent pas lโ€™obtention dโ€™un matรฉriau de grande qualitรฉ cristalline, cโ€™est-ร -dire exempt de dรฉfauts, dont la densitรฉ dรฉtermine la qualitรฉ du grain. Ces dรฉfauts peuvent รชtre en pratique des dislocations et /ou des macles. Les dislocations engendrent lโ€™apparition de liaisons pendantes รฉlectriquement actives et les macles, suivant quโ€™elles se trouvent ร  la surface du grain ou ร  lโ€™intรฉrieur induisent des dรฉfauts รฉlectriquement actifs et scindent le grain en plusieurs cristallites, fondamentalement caractรฉrisรฉs par leur taille mais surtout par leur orientation cristallographique. Selon quโ€™on observe ou non une orientation cristallographique prรฉpondรฉrante, le Si-poly sera dit texturรฉ ou pas.
โ€ข les caractรฉristiques essentielles du joint de grain quant ร  lui sont ses dimensions, cโ€™estร -dire son รฉpaisseur, et รฉgalement la densitรฉ de dรฉfauts quโ€™il abrite.

Ainsi parler dโ€™un type unique de silicium polycristallin serait une erreur et cโ€™est pourquoi il est toujours nรฉcessaire de dรฉfinir le silicium polycristallin selon certains critรจres que lโ€™on peut rรฉsumer comme ceci :
โ€ข texture et taille des grains ;
โ€ข densitรฉs de dรฉfauts intra granulaires et inter granulaires ;
โ€ข rapport du volume cristallin sur le volume amorphe ;
โ€ข porositรฉ.

Ces caractรฉristiques structurales dรฉpendent totalement des conditions de dรฉpรดt et de posttraitement (recuit, hydrogรฉnation, etc. . .) et introduisent dans la bande interdite du silicium polycristallin des รฉtats localisรฉs qui provoquent une recombinaison massive des porteurs minoritaires et occasionnent ainsi la dรฉgradation des qualitรฉs de la photopile [I-43].

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Table des matiรจres

INTRODUCTION GENERALE
CHAPITRE I
I-1) GENERALITE SUR LES SERIES NUMERIQUES
I-1-1) Dรฉfinition
I-1-2) Sรฉries de fonctions
a) Les sรฉries trigonomรฉtriques
b) Les sรฉries de Dirichlet
c) Les sรฉries entiรจres
I-2) GENERALITES SUR LES TAUX DE GENETATIONS
I-2-1) Pour un รฉclairement monochromatique constant
i. En rรฉgime statique
ii. En rรฉgime dynamique transitoire
iii. En rรฉgime dynamique frรฉquentiel
I-2-2) Pour un รฉclairement polychromatique constant
I-3) Prรฉsentation du silicium polycristallin
II-3-1) Principe de prรฉparation
II-3-2) Les diffรฉrents dรฉfauts
II-3-2-1) Les impuretรฉs
II-3-2-2) Les dรฉfauts cristallographiques
II-3-2-3) Les surfaces
I-4) ETUDE A UNE DIMENSION Dโ€™UNE PHOTOPILE EN REGIME STATIQUE
I-4-1) Equation de continuitรฉ
a) Condition aux limites
I-4-2) ETUDE DE LA DENSITE DE PHOTOCOURANT
I-4-2-1) Profil du photocourant
I-4-3) ETUDE DE LA PHOTOTENSION
I-4-3-1) Profil de la phototension
Caractรฉristique courant-tension
i) Photocourant de court circuit
ii) Tension de circuit ouvert
I-4-4) ETUDE DE LA PUISSANCE
I-4-4-1) Profil de la puissance
I-4-5) ETUDE DU RENDEMENT QUANTIQUE INTERNE (IQE)
I-5) CONCLUSION
BIBLIOGRAPHIE
CHAPITRE II
II-1) DESCRIPTION DE LA CELLULE SOLAIRE AU SILICIUM POLYCRISTALLIN
II-2) EQUATION DE CONTINUITE
II-3) ETUDE DE LA DENSITE DES PORTEURS MINORITAIRES DANS LA BASE
a) Densitรฉ des porteurs en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la jonction
b) Densitรฉ des porteurs minoritaires en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
c) Densitรฉ des porteurs minoritaires en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain
d) Densitรฉ des porteurs minoritaires en fonction de la taille de grain
e) Densitรฉ des porteurs minoritaires en fonction de la largeur de la base
II-4) ETUDE DE LA DENSITE DE PHOTOCOURANT
a) Densitรฉ de photocourant en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la jonction Sf
b) Densitรฉ de photocourant en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre Sb
c) Densitรฉ de photocourant en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain Sgb
d) Densitรฉ de photocourant en fonction de la taille de grain
II-5) ETUDE DE LA PHOTOTENSION
a) Phototension en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la jonction
b) Phototension en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
c) Phototension en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain
d) Phototension en fonction de la taille de grain
II-6) ETUDE DE LA CARATERISTIQUE COURANT-TENSION
II-7) ETUDE DU COURANT DE DIODE
a) Courant de diode en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la jonction
b) Courant de diode en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
II-8) ETUDE DE LA PUISSANCE
a) Puissance en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la jonction
b) Puissance en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
c) Puissance en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain
d) Puissance en fonction de la taille de grain
II-9) ETUDE DU PHOTOCOURANT DE COURT-CIRCUIT
a) Photocourant de court-circuit en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
b) Photocourant de court-circuit en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain
c) Photocourant de circuit en fonction de la taille de grain
II-10) ETUDE DE LA TENSION DE CIRCUIT OUVERT
a) Tension de circuit ouvert en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
b) Tension de circuit ouvert en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain
c) Tension de circuit ouvert en fonction de la taille de grain
II-11) ETUDE DU RENDEMENT QUANTIQUE INTERNE (IQE)
a) Rendement quantique interne en fonction de la vitesse de recombinaison ร  la face arriรจre
b) Rendement quantique interne en fonction de la vitesse de recombinaison aux joints de grain
c) Rendement quantique interne en fonction de la taille de grain
CONCLUSION
BIBLIOGRAPHIE
CONCLUSION GENERALE

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