PRINCIPE
La mesure de la rรฉsistivitรฉ dโune structures sโeffectue en injectant un courant รฉlectrique dans celle-ci au moyen dโรฉlectrodes dโinjection (souvent nommรฉes A et B) et en mesurant la diffรฉrence de potentiel crรฉรฉe par le passage du courant au moyen dโรฉlectrodes de mesure du potentiel (souvent nommรฉes M et N). Le nombre dโรฉlectrodes, ainsi que leur agencement dรฉfinit le dispositif รฉlectrique utilisรฉ. La configuration du dispositif est choisie selon la problรฉmatique de lโรฉtude. La diffรฉrence de potentiel dรฉpend de lโintensitรฉ du courant injectรฉ, de la disposition des รฉlectrodes et de la rรฉsistivitรฉ รฉlectrique du matรฉriau constituant lโobjet รฉtudiรฉ. (figure 4) Il est alors possible de dรฉduire une rรฉpartition de la rรฉsistivitรฉ vraie du matรฉriau, ce qui nโest pas le cas pour des milieux hรฉtรฉrogรจnes. La notion dโhomogรฉnรฉitรฉ dรฉpend toutefois de lโรฉchelle ร laquelle le milieu est observรฉ. Nous faisons appel, dans le cas dโun milieu hรฉtรฉrogรจne, au concept de rรฉsistivitรฉ apparente. Le terme de rรฉsistivitรฉ apparente est relativement impropre. Le fait que cette grandeur ait pour dimension celle de la rรฉsistivitรฉ provient du choix de lโunitรฉ pour la rรฉsistivitรฉ du milieu homogรจne, choix parfaitement conventionnel.
DISPOSITIFS ET ACQUISITION
Avant chaque injection du courant, il est important de mesurer la Polarisation Spontanรฉe (PS) du terrain due ร lโactivitรฉ รฉlectrochimique ou mรฉcanique; sa valeur est de quelques millivolts ; elle sera prise en compte lors de la mesure de la diffรฉrence de potentiel (?V). En surface, les mesures peuvent รชtre effectuรฉes en gardant le centre du dispositif fixe et en รฉcartant les รฉlectrodes dโinjection (sondage รฉlectrique) ou en dรฉplaรงant un dispositif ร รฉcartement constant (traรฎnรฉ รฉlectrique). Avec la premiรจre mรฉthode nous obtenons la variation de la rรฉsistivitรฉ en 1D (une dimension) sous le dispositif et avec la seconde mรฉthode nous รฉtudions les variations latรฉrales de ce paramรจtre. En combinant ces deux techniques, il est possible de rรฉaliser des panneaux รฉlectriques, sensibles aux variations tant verticales quโhorizontales de la sub-surface. Ces mesures sont habituellement reprรฉsentรฉes sous la forme de panneaux รฉlectriques (ou pseudo-sections en rรฉsistivitรฉs apparentes). Les mesures sont particuliรจrement sensibles aux variations de la rรฉsistivitรฉ sous le dispositif. Les points de mesure sont reportรฉs ร lโaplomb du centre du dispositif et ร une ordonnรฉe proportionnelle ร la distance sรฉparant les รฉlectrodes (AM/2 ou AB/2 par exemple) dรฉfinissant des niveaux dโacquisition.
Les valeurs sont ensuite interpolรฉes pour tracer les lignes dโisorรฉsistivitรฉ. Les รฉlectrodes sont de simples broches en acier inoxydable dโenviron 30 cm de long et 1 cm de diamรจtre. Des tensions de plusieurs centaines de Volts et des courants pouvant atteindre 500 mA sont utilisรฉs, ce qui nous amรจne ร rรฉaliser un convertisseur continu – continu 12V / 300V et capable de fournir un courant constant, indรฉpendamment de la rรฉsistivitรฉ du sous sol.
Choix des transistors de puissance
Avec des gains pas toujours bien glorieux ร courant รฉlevรฉ pour les transistors courants, il faut recourir ร des darlingtons ร plusieurs niveaux : lโaddition de tous les courants de base mรจne souvent ร un chiffre non nรฉgligeable, qui pรจse sur le rendement de lโappareil. Une solution intรฉressante consiste ร faire appel ร des transistors MOS de puissance, qui se commandent en tension (autrement dit dont lโรฉlectrode de commande ne consomme pas de courant en rรฉgime statique). Cette technique permet de commuter directement un courant de plusieurs dizaines dโampรจres ร partir de niveaux logiques CMOS. Il faut cependant sโaccommoder de la rรฉsistance ร lโรฉtat passant de ces transistors, qui introduit une chute de tension purement ohmique, et donc proportionnelle au courant dรฉbitรฉ. Par comparaison, un transistor bipolaire saturรฉ nโintroduit qโune chute de tension de lโordre du volt, pratiquement indรฉpendante du courant dรฉbitรฉ.
Choix des transistors de puissance : Avec des gains pas toujours bien glorieux ร courant รฉlevรฉ pour les transistors courants, il faut recourir ร des darlingtons ร plusieurs niveaux : lโaddition de tous les courants de base mรจne souvent ร un chiffre non nรฉgligeable, qui pรจse sur le rendement de lโappareil. Une solution intรฉressante consiste ร faire appel ร des transistors MOS de puissance, qui se commandent en tension (autrement dit dont lโรฉlectrode de commande ne consomme pas de courant en rรฉgime statique). Cette technique permet de commuter directement un courant de plusieurs dizaines dโampรจres ร partir de niveaux logiques CMOS. Il faut cependant sโaccommoder de la rรฉsistance ร lโรฉtat passant de ces transistors, qui introduit une chute de tension purement ohmique, et donc proportionnelle au courant dรฉbitรฉ. Par comparaison, un transistor bipolaire saturรฉ nโintroduit qโune chute de tension de lโordre du volt, pratiquement indรฉpendante du courant dรฉbitรฉ. Cette chute liรฉe au courant consommรฉ va dans le sens dโune protection du convertisseur contre les surcharges, dโautant plus quโelle augmente avec la tempรฉrature (exactement lโinverse dโun ยซ emballement thermique ยป).
Les MOS de puissance se montent fort bien en parallรจle, tandis quโil en existe dont la rรฉsistance ร lโรฉtat passant est trรจs faible : selon la puissance souhaitรฉe (en pratique celle du transformateur), on choisira donc le type et le nombre des transistors nรฉcessaires en fonction des disponibilitรฉs ou des opportunitรฉs, sans que cela ne remette en cause si peu que ce soit le reste du montage.
DISCUSSIONS
Pour les mesures de la valeur des rรฉsistances, le rรฉsistivimรจtre conรงu affiche les mรชmes valeurs que les deux multimรจtres ; la mesure et les rรฉsultats sont fiables et ne posent aucun problรจme. Concernant les mesures sur terrain, mesure de la rรฉsistivitรฉ, nous constatons une lรฉgรจre diffรฉrence entre le SYSCAL R2 et notre rรฉsistivimรจtre ; celle-ci est due aux non corrections des phรฉnomรจnes naturelles (induction รฉlectromagnรฉtique, courants telluriques). Le rรฉsistivimรจtre conรงu pourrait รชtre amรฉliorรฉ, en utilisant un convertisseur de tension ร base dโune alimentation ร dรฉcoupage (hacheur) ; on obtient ainsi un meilleur rendement et un encombrement plus faible. Lโutilisation dโun doubleur de tension nous fournit une tension de lโordre de kilovolts pour les faibles courants (0.2mA ร 10mA), ceci dans le but dโobtenir une grande profondeur dโinvestigation du sol ร รฉtudier. On peut aussi ajouter un module capable de dรฉtecter les phรฉnomรจnes physiques perturbateurs afin de les รฉliminer pour ne traiter que les signaux dus ร lโinjection de courant.
Ce travail nous a permis de comprendre et de rรฉaliser le convertisseur de tension 12V de la batterie en une tension beaucoup plus รฉlevรฉe (300V) avec une puissance atteignant 200VA. Nous sommes limitรฉs en puissance par lโinexistence des composants รฉlectroniques ร Madagascar. Par ailleurs, une partie du temps de ce travail a รฉtรฉ consacrรฉ ร la comprรฉhension de la structure des microcontrรดleurs et lโapprentissage du logiciel MPLAB. Nous avons appris alors ร programmer un microcontrรดleur et le tester. Ainsi, nous avons pu monter quelques applications du microcontrรดleur et les rรฉaliser au laboratoire. Le domaine qui reste ร explorer serait dโajouter un module capable de rรฉaliser un panneau รฉlectrique pour que lโutilisateur puisse connaรฎtre la structure en 2D du sous sol.
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Table des matiรจres
INTRODUCTION
CHAPITRE I : LE RESISTIVIMETRE
1- La rรฉsistivitรฉ
2- La conductibilitรฉ
3- La loi dโOhm
4- Principe
5- Dispositifs et acquisition
CHAPITRE II : LE GENERATEUR DE COURANT
1. LโALIMENTATION
2. REGULATION DU TENSION DE LA BATTERIE
3. LE GENERATEUR DE TENSION
II.4. LE GENERATEUR DE COURANT
CHAPITRE III : LโINTERFACE
III.1 STRUCTURE INTERNE DโUN MICROCONTROLEUR
III.2 PRESENTATION DU PIC 16F877
III.3 STRUCTURE INTERNE DU 16F877
1)La mรฉmoire du 16F877
2) Les modules internes du 16F877
3) Prรฉsentation de la liaison RS232 et du MAX 232
III.4 PIC vers PC
III.5 LA PROGRAMMATION DU PIC
CHAPITRE IV : RESULTATS ET DISCUSSIONS
RESULTAT
DISCUSIONS
CONCLUSION
ANNEXES
BIBLIOGRAPHIE
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